詳細(xì)摘要: 簡(jiǎn)要描述:綜合薄膜測(cè)量軟件集成的色散模型用于描述所有常用材料的光學(xué)特性。利用快速擬合算法,通過改變模型參數(shù)將計(jì)算得到的光譜調(diào)整到實(shí)測(cè)光譜。
產(chǎn)品型號(hào):所在地:更新時(shí)間:2025-01-01 在線留言印前設(shè)備 印刷機(jī)械 印后設(shè)備 裝訂設(shè)備 廣告設(shè)備 辦公設(shè)備 印刷機(jī)械配件 其它印刷相關(guān)器材 其它印刷設(shè)備


